Invitación al Webinar
Webinar CT: Reducción artefactos con ZEISS scatterControl y ZEISS INSPECT X-Ray

No te pierdas nuestro Webinar CT: Reducción artefactos con ZEISS scatterControl y ZEISS INSPECT X-Ray el Miércoles, 15 de Enero de 2025 de 10:00 a 11:00 (CET). 
¡ZEISS sigue desarrollando avances en tomografía!

La evolución constante de la industria hace que la inspección y medición de piezas de forma no destructiva se convierta en una necesidad fundamental. Estos análisis presentan dificultades cuando se trata de piezas de múltiples materiales o de espesores elevados.

Con la intención de acompañar a estas necesidades, ZEISS ha desarrollado herramientas avanzadas que garantizan una calidad de imagen excepcional y reducen artefactos en diversas aplicaciones.
Gracias al nuevo componente ZEISS scatterControl y a los avanzados algoritmos del software ZEISS Inspect X-ray, mejorarás drásticamente tus procesos de inspección y medición.

No dudes en inscribirte en el seminario web, incluso si no tienes tiempo el 15 de Enero de 2025. Posteriormente te proporcionaremos la grabación.

¡Nuestros expertos en metrología esperan compartir sus conocimientos y experiencia contigo!

Tu equipo de ZEISS Industrial Quality Solutions